PRODUCT CLASSIFICATION
產品分類技術文章/ Technical Articles
WaferX310系列用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF）可以無損、非接觸式方式同時分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。這是一種波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可以無損、非接觸地同時分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。它與GEM300兼容，并支持300mmFab的在線規格。XYθZ驅動式樣品臺（方法）可準確分析各種金屬膜，避免了衍射線的影響。使用4kW高功率X射線管可以測量痕量元素。此外，通過安裝...
晶圓/磁盤分析儀3650用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀對各種薄膜的厚度和成分進行同步、無損、非接觸分析這是一種波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可以以非破壞性、非接觸的方式同時分析最大~200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。XYθZ驅動式樣品臺（方法）可準確分析各種金屬膜，避免了衍射線的影響。使用4kW高功率X射線管可對超輕元素進行高精度分析，例如BPSG薄膜的痕量元素測量和硼分析。它還與C-to-C傳輸機器人（可選）兼容。它配備了AutoCal（全自動日常檢查和強度...
AZX400用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀將Be~U中的所有元素（包括B、C、N和O）包含在一個單元中，這些元素是重要的半導體材料波長色散X射線熒光（WDX）光譜儀的**模型WDX具有高信噪比和高分辨率，使用可實現比能量色散X射線熒光（EDX）儀器更準確的分析。高功率X射線管和專用于超輕元素的光譜晶體可實現超輕元素測量，例如B、C、N和O，這是EDX無法實現的。此外，由于Si的影響，難以用EDX分析的Al超薄膜可以通過高分辨率的WDX清晰分離。=thumbnailOffset...
高精度CNC三坐標測量機STRATO系列初項高達1μm以內高精度下，實現高速、高加速度驅動的高速掃描。產品特點與優勢STRATO-Apex系列是高精度CNC三坐標測量機，該系列通過優化本體結構、導軌構造等達到高剛性，使設備在擁有高精度的同時，更實現了高速、高加速度驅動。●STRATO-Apex系列檢測各軸位置的標尺搭載了與LEGEX系列同等級別的高精度標尺（自社研發），具有很高的檢測功能和超高精度控制功能，通過其他高速控制程序等技術實現高精度·高速度測量?！駱伺錅囟葘崟r補償功...
CRYSTA-ApexV標準CNC型三坐標測量機產品特點與優勢CRYSTA-ApexV系列是追求高精度、高速度、多樣性的新一代CNC三坐標測量機，為實現利用IoT深度生產管理和品質管理信息的智能工廠提供強力支持。CRYSTA-ApexV系列采用彰顯先進性和創造性的煥新設計，提供可應對小型到大型工件測量的豐富產品陣容。CRYSTA-ApexV系列可以確定3D形狀的測量路徑，以自由的測量路徑來測量曲面、輪廓等復雜形狀的工件。另外，通過實時修正工件和公稱值的偏差引起的軌跡誤差，可實...
QVHYPER302/404/606配備高分辨力、高精度標尺的高精度機型。產品特點與優勢QVHYPERPro系列是配備高分辨力、高精度標尺的高精度型影像測量機?！衽鋫淇伤查g對焦工件的跟蹤自動對焦裝置的機型，可大幅提高測量效率?！窨膳鋫銼TREAM功能，通過XY主體驅動與頻閃照明同步，在不關停工作臺的狀態下進行無停頓影像測量，大大縮短測量時間?！駛溆懈咄ㄓ眯缘陌咨獿ED照明機型和邊緣檢測能力更強的RGB彩色LED照明機型?！駱伺溆惺褂脺y量機主機溫度傳感器和工件溫度傳感器的自動溫...
ULTRAQUICKVISION超高精度CNC影像測量機。產品特點與優勢ULTRAQUICKVISION是實現測量精度E1XY（0.25+2L/1000）μm的高精度CNC影像測量機。●X,Y,Z各軸采用本公司開發的高分辨力（0.01μm）、高精度的低熱膨脹玻璃標尺?！馳軸采用高剛性固定橋式移動工作臺設計，底座采用具熱穩定性強的巖石平板?！駱伺溆惺褂脺y量機主機溫度傳感器和工件溫度傳感器的自動溫度補償功能。工作原理影像儀是利用表面光.輪廓光及同軸光照明后，經過變焦距物鏡通過攝像...
搭載非接觸式位移傳感器，實現微細階差或3D形狀測量的復合型影像測量機。產品特點與優勢QVH4Pro是配備非接觸式位移傳感器、可利用掃描功能測量細微階差和3D形狀的復合型測量機?！づ鋫洳ㄩL共焦方式的非接觸位移傳感器(色差點傳感器)。即便是反射率不同的材質也可進行連續測·位移傳感器采用LED光源，利用自動調光功能，即便是反射率不同的材質也可進行連續測量。一、影像測量儀是采用非接觸式的光學測量，其主要的結構部件有CCD、光柵尺、伺服電機、光源系統：1.CCD：CCD是一種半導體器件...
特征無需初步樣品處理僅放置樣品即可進行無損測量作快速簡便已安裝25條校準曲線Coffee和Pepper的新校準曲線規格測量方法介電常數應用谷物、咖啡、黑胡椒、種子、堅果、茶等。測量范圍1-40%（取決于樣品）樣品量240毫升工作溫度范圍0-40°C精度與干燥方法相比，標準誤差為0.5%或更低（所有產品水分含量低于20%）校正功能質量、溫度其他功能平均，自動關機顯示數字（LCD）電源4節1.5V電池（“AA”型堿性電池）尺寸125（W）x205（D）x215（H）毫米重量凈重1...
特征電阻型、標準臺式大米和谷物水分測試儀可連接打印機規格測量方法交流電阻格式應用●型號PB-3103稻谷、米糠、蒸谷米、蒸谷稻、木薯顆粒、木薯粉●型號PB-3104小麥、面粉（蛋糕和面條、面包和意大利面）、面條、玉米粉測量范圍6.0-35.0%準確性濕度為20%或更低時，標準誤差為0.5%或更低（在沒有異常電磁噪聲的環境中）顯示128×64點陣LCD顯示內容水分（%），測量次數，平均值，測量項目，單位溫度響應時間大約3秒樣品溫度使用熱敏電阻進行自動補償工作溫度0-40°C工作...
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